高低温冲击试验箱半导体

高低温冲击试验箱半导体产品用途

该产品适用于电子元器件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。

三箱式：该冲击试验箱为待测品静置之冷热交替冲击方式，广泛使用于电子零组件测试，半导体，电子线路板，金属化学，材料等测试设备。试验箱下部为低温蓄冷区，上部为高温蓄热区，试件（待测品）放置在试验箱中部，高温冲击时，上风门打开，形成高温内循环。低温冲击时，上风门关闭，下风门打开，形成低温内循环。该冲击试验箱的*大特点是：试件(待测品)静止不动，使用户避免了因试件移动带来的诸多不便。

高低温冲击试验箱半导体参数：

试验温度范围：A表示：-40℃～+150℃

              B表示：-55℃～+150℃

              C表示：-65℃～+150℃

低温槽温度范围：-55℃～-10℃、-70℃～-10℃、-80℃～-10℃

高温槽温度范围：+60℃～+200℃，升温速率平均5℃/MIN

温度波动度：±2.0℃

温度转换时间：10S

温度稳定时间：5MIN，常温～*低温度5MIN，常温～*高温度5MIN

高低温冲击试验箱半导体产品结构：

1．外壳冷轧钢板喷塑/内胆不锈钢，箱门均采用*硅橡胶密封条。

2.隔热层：硬质聚胺脂.超细玻璃棉

3.制冷方式：二元压缩制冷方式（水冷冷凝器）

4.制冷机：制冷压缩机选用2台法国“泰康"半封闭压缩机，其主要制冷配件均采用进口原件，组装成为一套复叠制冷机组。在制冷管路系统中采用了多路能量调节回路，能较好地保证达到试验箱的各项技术参数。

5.加热器：军品级不锈钢翅片加热器

6.IPC2000彩色LCD触摸屏控制器，可显示所设定运行的温度曲线及温度的升降动态进程

7.待测品静止自动引导预热区、室温、预冷区温度冲击。

8.试验箱采用三箱式冲击试验程式控制。高温箱/试验箱/低温箱依上而下。样品在试验室内保持静止。

·设备符合MIL-STD-883C,GB/T2423.13，GJB-150.5GJB1217-91等标准的要求。