缺陷定位微光显微镜系统_深圳微光显微镜供应商_漏电微光显微镜代理

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      EMMI 微光显微镜是一种效率极高的失效分析工具，提供高灵敏度非破坏性的故障定位方式，可侦测和定位非常微弱的发光（可见光及近红外光），由此捕捉各种元件缺陷或异常所产生的漏电流可见光。
    EMMI 侦测对应故障种类涵盖ESD，Latch up，I/O Leakage，junction defect，hot electrons，oxide current leakage等所造成的异常。



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