X射线测厚仪系列型号测量

X射线测厚仪系列型号测量 
  
  X射线镀层测厚仪(韩国先锋XRF-2000系列)
  
  X射线测厚仪产品介绍
  
  X 萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用于材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。 
  
  XRF-2000 系列分为以下三种： 
  1. H型: 密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约100mm以下。 
  2. L型: 密闭式样品室，方便测量 样品较小，高度约30mm以下。 
  3. PCB型: 开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下
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