X射线荧光测厚仪综合性能系统介绍

X射线荧光测厚仪综合性能系统介绍
  
  XRF2000电镀镀层测厚仪/电镀膜厚测试仪
  
  XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱超值
  同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
  甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，
  可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的*。可测量各类金属层、合金层厚度等。
  
  可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U） 原子序 22 – 92
  准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
  自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
  电脑系统：DELL*电脑,17寸液晶显示器，惠普彩色打印机
  综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能
  
  了解更多关于X射线荧光测厚仪详细信息，欢迎访问：
  http://www.jc-yq.com/fhx2030-Products-3931374/ 
  http://www.gkzhan.com/st110680/product_3931374.html 

上海南荣实验室设备有限公司主营：光照箱 厌氧培养箱 智能人工气候箱;欢迎与我们联系！
手机版：X射线荧光测厚仪综合性能系统介绍